數(shù)顯式精密聲級(jí)計(jì)是根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)按照一定的頻率計(jì)權(quán)和時(shí)間計(jì)權(quán)測量聲壓級(jí)的常見噪聲測量儀器，其性能符合GB/T 3785和IEC61672-2002標(biāo)準(zhǔn)對(duì)2級(jí)聲級(jí)計(jì)的要求，也符合JJG188-2017標(biāo)準(zhǔn)。

數(shù)顯式精密聲級(jí)計(jì)是強(qiáng)制檢定計(jì)量器具，只有出具檢定證書并得出合格結(jié)論及準(zhǔn)確度等級(jí)的聲級(jí)計(jì)，才能正常使用。在不明確聲級(jí)計(jì)準(zhǔn)確度等級(jí)是否合格的情況下，隨意使用聲級(jí)計(jì)的風(fēng)險(xiǎn)就很高。

那么數(shù)顯式精密聲級(jí)計(jì)在檢定過程中有哪些常見問題呢？

問：數(shù)顯式精密聲級(jí)計(jì)檢定過程中常常遇到頻率計(jì)權(quán)/頻率響應(yīng)高頻部分偏高或 者高頻部分偏分是什么原因呢？

答：高頻部分偏高原因一般有兩點(diǎn)：

1.傳聲器自身頻率響應(yīng)不良；

2.自由場測試時(shí)1米距離未調(diào)節(jié)準(zhǔn)確。

高頻部分偏低原因有如下幾點(diǎn)：

1.傳聲器膜片破損；

2.自由場測試1米距離未調(diào)節(jié)準(zhǔn)確；

3.自由場測試時(shí)，前置級(jí)與底部托板靠的太近干擾導(dǎo)致；

4.多頻聲校準(zhǔn)器使用壓力場聲源同樣會(huì)導(dǎo)致高頻信號(hào)偏低；

5.比對(duì)的標(biāo)準(zhǔn)傳聲器使用壓力場傳聲器，并未修正到自由場等，也是高頻部分偏低的原因。

問：那頻率計(jì)權(quán)/頻率響應(yīng)低頻部分偏高或者低頻部分偏低又是什么原因呢？                           

答：低頻部分偏高的原因一般是這樣：

1.耦合腔測試時(shí)基準(zhǔn)信號(hào)設(shè)置低了，導(dǎo)致10 Hz、20 Hz衰減余量不足；

2.傳聲器自身頻率響應(yīng)不良。

低頻部分偏低的原因一般是：

1.傳聲器膜片破損；

2.耦合腔密封性差漏聲導(dǎo)致。

問：檢定時(shí)間發(fā)現(xiàn)時(shí)間計(jì)權(quán)偏小一般是什么原因呢？               

答：原因大概有以下幾點(diǎn)：

1.錯(cuò)誤的用起始信號(hào)直接減去第一個(gè)下降信號(hào)，應(yīng)用下降后的信號(hào)之間的差值；

2.顯示值跳動(dòng)0.5秒刷新頻率誤用為1秒。

問：在檢定過程中聲級(jí)計(jì)級(jí)線性超差什么原因呢？

答：原因有如下幾點(diǎn)：

1.數(shù)顯式精密聲級(jí)計(jì)、信號(hào)發(fā)生器自生噪聲過高影響級(jí)線性下限；

2.靈敏度級(jí)偏離原預(yù)設(shè)值導(dǎo)致上下量程偏離；

3.測試環(huán)境噪聲偏高導(dǎo)致級(jí)線性下限不穩(wěn)定；

4.外接電源電噪聲干擾導(dǎo)致，可用電池排除。

  問：濾波器中心頻衰減超差的原因呢？

答：原因有以下兩點(diǎn)：

1.測試時(shí)計(jì)權(quán)錯(cuò)誤使用A或C計(jì)權(quán)；

2.低頻段100Hz以下不穩(wěn)定，讀數(shù)需用S計(jì)權(quán)。

問：用校 準(zhǔn)器校準(zhǔn)時(shí)偏差軟大是什么原因呢？

答：原因有以下幾點(diǎn)：

1.傳聲器膜片破損、進(jìn)水；

2.校準(zhǔn)界面校準(zhǔn)值被修改超過3dB以上；

3.儀器與傳聲器尺寸、型號(hào)不匹配，又未經(jīng)調(diào)節(jié)；

4.校準(zhǔn)器未穩(wěn)定下來就保存校準(zhǔn)顯示值。